從基礎的批量檢測(ce)到復雜測(ce)量難題，還可以提(ti)供非接(jie)觸(chu)測(ce)量，包括快(kuai)速采集(ji)數據點云，完成(cheng)曲(qu)面(mian)測(ce)量和逆向工程應(ying)用的激光掃描策略頭(tou)，以及(ji)完成(cheng)微(wei)小測(ce)量的影像測(ce)頭(tou)。

借助我們(men)的(de)檢驗方(fang)案，您可(ke)以開發(fa)持(chi)續(xu)符合(he)您預期的(de)高(gao)標準產品。

我(wo)們的(de)(de)檢驗服務幫(bang)助(zhu)您盡早(zao)注意(yi)到缺(que)陷，讓您能夠(gou)對需要的(de)(de)地方做出(chu)更改， 這意(yi)味(wei)著您可(ke)以(yi)減少產品(pin)召回的(de)(de)風險，或者可(ke)能影響(xiang)您的(de)(de)收益及長期品(pin)牌誠信的(de)(de)風險。

作為檢驗設備的全球領軍廠商，我(wo)們(men)為您提供無可比擬的經驗和(he)(he)專業技(ji)能(neng)、先進新技(ji)術(shu)和(he)(he)獨一無二的全球服務網絡。 所以(yi)，我(wo)們(men)在全國(guo)各地能(neng)夠(gou)提供最高標準的品(pin)質和(he)(he)誠(cheng)信服務。

從(cong)基礎(chu)的批量(liang)(liang)檢(jian)測(ce)到復雜測(ce)量(liang)(liang)難(nan)題，還可(ke)以提供非(fei)接觸(chu)測(ce)量(liang)(liang)，包(bao)括(kuo)快速采集數據點云，完成曲面測(ce)量(liang)(liang)和逆向工程應用的激光掃描策(ce)略頭(tou)，以及完成微小測(ce)量(liang)(liang)的影像測(ce)頭(tou)。

返回